Пособие содержит основные сведения по метрологическому обеспечению различных технологических операций в сфере наноиндустрии. Рассмотрены становление в XX – XXI вв. и концепции развития нанометрологии. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям – поверке и калибровке сканирующей зондовой микроскопии.
Изложены организационные принципы нанометрологии в России. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и основные направления их исследований в данной области.
Предназначено для студентов и аспирантов, изучающих вопросы нанотехнологии, а также может быть полезно инженерно-техническим работникам, связанным с проблемами наноиндустрии
Учебник предназначен для студентов СПО, обучающихся по специальностям: «Компьютерные сети», «Компьютерные сети и комплексы», «Информационные системы» (по отраслям). Разработан на основании требований к данной дисциплине ФГОС-3 в соответствии с типовыми программами. Изложены нормативные, организационные, научно-методические и юридические положения современных стандартов, касающиеся технического регулирования, метрологии, стандартизации, сертификации и оценки качества в Российской Федерации и на международном уровне. Особенность учебника, отличающего его от аналогичных изданий, состоит в том, что в нем представлены разделы, посвященные вопросам технического регулирования и документоведения. Может быть полезен также для специалистов предприятий, занимающихся вопросами технического регулирования, метрологии, стандартизации, сертификации и оценки качества продукции
Книга посвящена вопросам измерения физических величин, истории эталонов, существовавших в разных странах в разное время. Сделана попытка проанализировать истоки возникновения различных единиц измерения и эволюцию их развития.
Современное состояние стандартизации эталонов физических величин рассмотрено на основе международной системы SI. Описаны физические принципы определения эталонов основных единиц системы SI на различных этапах развития и их связь с развитием современной физики.
Рассмотрены сопутствующие вопросы, связанные с использованием эталонов физических величин при описании физической картины окружающего нас мира.
Может быть использована студентами технических ВУЗов в качестве дополнительного учебного пособия по курсу фи-зики и метрологии.
