Рассмотрены вопросы проектирования и применения микропроцессорных систем тестового поэлементного диагностирования (СПД) и контроля радиоэлектронной аппаратуры и микросборок. Анализируются дефекты и даются рекомендации по их эффективному обнаружению. Изложена методика автоматизированного получения рабочих программ поэлементного диагностирования. Приведены конкретные технические решения ряда устройств СПД. Для инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и эксплуатацией систем контроля и диагностирования.
Рассмотрены практические вопросы отладки микропроцессорных систем и применяемое для этого контрольно-измерительное оборудование. Приведено описание логических и сигнатурных анализаторов. Показаны некоторые схемотехнические решения и программное обеспечение, необходимые при отладке микросистем. Для инженерно-технических работников в области вычислительной техники и автоматики, занятых проектированием, производством и эксплуатацией микросистем.
