Книга оксфордского профессора Джона Брука посвящена истории взаимоотношений науки и религии в христианской Европе. Автор намеренно отказывается от упрощенных моделей, в которых либо утверждается превосходство научного подхода, либо феномены науки и религии принципиально разводятся. В работе показана необходимость серьезного исторического исследования диалога науки и религии для преодоления установившихся стереотипов. Книга представляет собой прекрасное учебное пособие по курсу “Богословие и наука”.
Во втором изданиивторбго тома «Истории религии» (первое издание — 2001 г.) раскрывается становление мировых религий —- буддизма, христианства, ислама, показывается их историческое развитие, разделение на направления, течения, деноминации, осмысливаются современные процессы на фоне динамических социально-политических изменений в мире. Авторы анализируют современную социальную доктрину РПЦ, философско-теологические учения современного католицизмаи протестантизма, а также так называемые нетрадиционные религии и культы, вызванные к жизни сложными постмодернистскими цивилизационными процессами.
Для студентов, аспирантов и преподавателей вузов, преподавателей и учащихся старших классов, лицеев гуманитарного профиля, всех интересующихся вопросами религиоведения.
В учебнике представлены различные теории религии, разработанные в мировом религиоведении. При изложении истории религии дается описание как народностно национальных религий даосизма, индуизма, иудаизма и др., так и мировых буддизма, христианства, ислама. Особое внимание уделяется основным направлениям религиозной философии и теологии. Свобода мысли, совести, религии и убеждений интерпретируется в соответ ствии с международными правовыми документами, законодательными актами в нашей стране.
Для студентов и преподавателей вузов.
Издание соответствует программе курса «Рентгеноструктурный анализ». Оно содержит основные теоретические положения рентгеновского метода качественного фазового анализа. Даны практические рекомендации по определению фазовых составляющих исследуемого образна и пути повышения точности метода.
Предназначено для студентов специальности «Физика конденсированного состояния вещества» физического факультета университета.
В соответствии с типовой программой курса «Прикладная механика» в данном учебнике на высоком научно-методическом уровне изложены фундаментальные разделы следующих дисциплин: «Теория механизмов и машин», «Сопротивление материалов», «Взаимозаменяемость, стандартизация и технические измерения», «Триботехника» и «Детали машин».
По сравнению с ранее выходившими учебниками содержание и построение курса существенно обновлено в соответствии с современными требованиями, учитывая отечественные и зарубежные достижения последних лет. Впервые в учебной литературе изложены необходимые объемы основ трибологии — междисциплинарной области знаний, в рамках которой изучаются износ, трение и методы проектирования сопряжений машин и механизмов на основе новейших отраслевых достижений.
Книга будет полезна в формировании курсом понимания фундаментальных проблем конструирования машин, понимания сложных инженерных проблем, для самостоятельного изучения и контроля полученных знаний.
Для студентов немашиностроительных специальностей вузов.
В учебнике изложены разделы курса информатики для обучающихся по экономико-управленческим специальностям, предусмотренные государственным образовательным стандартом.
Может быть полезен студентам других специальностей и аспирантам.
Пособие посвящено простейшим, наиболее известным, одномерным моделям квантовой механики. В нем подробно разбираются общие закономерности одномерного движения квантовых частиц, а также формулируются математические понятия, знание которых необходимо для решения квантово-механических уравнений движения.
Использование общих теоретических методов иллюстрируется на примерах движения частицы в одномерных модельных потенциалах. Проводится детальный анализ физических следствий, вытекающих из решения задач с модельными потенциалами, в том числе, проводится сравнение с движением классических частиц.
Пособие предназначено для студентов физических специальностей университетов, приступающих к изучению квантовой механики.
Нанотехнология в последние годы стала одной из наиболее важных и захватывающих областей знаний на переднем крае физики, химии, биологии, технических наук. Она подает большие надежды на скорые прорывы и новые направления в технологическом развитии во многих сферах деятельности. Для облегчения и ускорения широкомасштабного использования этого нового подхода важно иметь общие представления и некоторые конкретные знания, которые с одной стороны были бы достаточно подробными и глубокими для обстоятельного охвата темы, и в то же время достаточно доступными и законченными, чтобы быть полезными широкому кругу читателей, желающих больше узнать о существе вопроса и перспективах в этой области. Настоящая книга пытается решить обе эти задачи.
Мы попытались дать введение в предмет нанотехнологии, написанный на таком уровне, чтобы исследователи в разных областях смогли оценить развитие области вне пределов их профессиональных интересов, а технические руководите ли и менеджеры получить обзор предмета. Возможно, эту книгу можно использовать как основу для университетского курса по нанотехнологии.
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения.
Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.
Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Современный этап развития радиоэлектроники характеризуется широким применением интегральных микросхем(ИМС) во всех радиотехнических схемах и аппаратуре. Это связано со значительным усложнением требований и задач, решаемых радиоэлектронной аппаратурой, что привело к росту числа элементов в ней. Отсюда особо важное значение приобретают проблемы повышения надежности аппаратуры и ее элементов.
Качество и надежность элементной базыинтегральных микросхем во многом определяются технологией их изготовления. При технологическом проектировании синтезируется оптимальная структура технологического процесса обработки и сборки, позволяющая максимально использовать отработанные типовые процессы и обеспечивать высокую воспроизводимость, минимальные трудоемкость и стоимость с учетом конструкторских требований. Вследствие сложности и многостадийности технология ИМС выделилась в самостоятельную научную дисциплину. Она предполагает совокупность технологических процессов изготовления, контрольно-измерительных операций, а также физических, химических и механических испытаний, осуществляемых с исходными материалами и полуфабрикатами или отдельными электронными элементами для получения ИМС, как законченных изделий, обладающих заданными параметрами.
На современном этапе развития микроэлектроники используются два основных вида интегральных микросхем:
пленочные интегральные микросхемы;
полупроводниковые интегральные микросхемы.
Пленочные ИМС создаются на диэлектрической подложке путемпослойного нанесения пленок различных материалов с одновременным формированием из них микроэлементов и их соединений.
Полупроводниковые ИМС создаются путем локального воздействия на микроучастки полупроводникового кристалла и придания им свойств, соответствующих функциям микроэлементов и их соединений.
