Статья: Особенности адмиттанса МДП структур на основе МЛЭ p-Hg1-xCdxTe (x = 0,30) (2018)

Читать онлайн

В широком диапазоне условий измерения экспериментально исследован адмиттанс МДПструктур на основе МЛЭ p-Hg1-xCdxTe/Si(013) с приповерхностным варизонным слоем с повышенным содержанием CdTe и без такого слоя, причем при использовании в качестве диэлектрика Al2O3 и CdTe/Al2O3. Показано, что вольт-фарадные характеристики (ВФХ) МДПструктур на основе МЛЭ p-Hg0,70Cd0,30Te без варизонного слоя при 77 К имеют высокочастотный вид относительно времени перезарядки быстрых поверхностных состояний. Это позволяет определять концентрацию дырок по значению емкости в минимуме низкочастотной ВФХ при 77 К (в отличие от случая x = 0,21–0,23). Установлено, что для МДП-структуры на основе p-HgCdTe с варизонным слоем значения дифференциального сопротивления области пространственного заряда в режиме сильной инверсии в 10–100 раз больше, чем для МДПструктуры на основе p-HgCdTe без такого слоя.

In a wide range of temperatures and frequencies, the admittance of MIS-structures based on MBE p-Hg0.70Cd0.30Te/Si(013) with different dielectrics and different composition distributions in the nearsurface region has been investigated. It has been established that the capacitance-voltage characteristics (at 77 K) of the MIS structures based on MBE p-Hg0.70Cd0.30Te without a graded-gap layer has high-frequency behavior relatively to the time of charge exchange of fast surface states (in contrast to the case of x = 0.21–0.23). It is shown that for a structure with a graded-gap layer, the value of the differential resistance of space-charge region is 10–100 times greater than for a structure without a gradedgap layer. This result is not obvious and can be explained by an increase in the width of the band gap near the surface, as well as by a decrease in defectiveness in the near-surface layer of HgCdTe when the CdTe layer is grown.

Ключевые фразы: HgCdTe, молекулярно-лучевая эпитаксия, МДП-структура, варизонный слой, адмиттанс, вольт-фарадная характеристика
Автор (ы): Войцеховский Александр Васильевич, Несмелов Сергей Николаевич, Дзядух Станислав Михайлович, Варавин Василий Семенович, Дворецкий Сергей, Михайлов Николай Николаевич, Якушев Максим Витальевич, Сидоров Георгий Юрьевич
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.315.592. Полупроводники
eLIBRARY ID
22712954
Для цитирования:
ВОЙЦЕХОВСКИЙ А. В., НЕСМЕЛОВ С. Н., ДЗЯДУХ С. М., ВАРАВИН В. С., ДВОРЕЦКИЙ С., МИХАЙЛОВ Н. Н., ЯКУШЕВ М. В., СИДОРОВ Г. Ю. ОСОБЕННОСТИ АДМИТТАНСА МДП СТРУКТУР НА ОСНОВЕ МЛЭ P-HG1-XCDXTE (X = 0,30) // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2018. №3
Текстовый фрагмент статьи