Статья: БЛИЖНЕЙ МИГРАЦИИ ДЕФЕКТОВ В ОБЛУЧЕННЫХ ЭЛЕКТРОНАМИ СПЛАВАХ Fe–16Cr (2024)

Читать онлайн

Методом возврата остаточного электросопротивления исследованы миграция радиационных дефектов и их взаимодействие с примесными атомами Si (0,2, 0,5 и 0,75 ат. %) и Au (0,13 ат. %) в облученных электронами сплавах Fe–16Cr в температурном интервале 80–180 К. Легирование сплавов примесями приводит к подавлению возврата остаточного электросопротивления, что указывает на захват мигрирующих дефектов на атомах примесей, который сопровождается уменьшением удельного вклада дефектов в остаточное электросопротивление. Захват мигрирующих дефектов на атомах примесей начинается выше 150 К в Fe–16Cr–0,13Au и Fe–16Cr-0,2Si и выше 130 К в Fe–16Cr–0,75Si. Плавное и монотонное подавление возврата остаточного электросопротивления при достаточно больших концентрациях примесей указывает на подавление коррелированной миграции в Fe–16Cr–0,13Au и Fe–16Cr–0,2Si, а также рекомбинации близких пар в Fe–16Cr–0,5Si и Fe–16Cr–0,75Si. Плавное подавление возврата остаточного электросопротивления и уменьшение удельного вклада дефектов при захвате указывают на ближнюю миграцию вакансий в температурном интервале 130–180 К. Выше 180 К начинается дальняя миграция дефектов.

Ключевые фразы: сплавы fe–16cr, ОБЛУЧЕНИЕ ЭЛЕКТРОНАМИ, радиационные дефекты, возврат остаточного электросопротивления, захват дефектов на атомах si и au, ближняя миграция вакансий
Автор (ы): Николаев А. Л.
Журнал: DIAGNOSTICS, RESOURCE AND MECHANICS OF MATERIALS AND STRUCTURES

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

УДК
539.12.043. физические
620.192.63. Внутренние дефекты, связанные с физическими свойствами
669. Металлургия. Металлы и сплавы
Для цитирования:
НИКОЛАЕВ А. Л. БЛИЖНЕЙ МИГРАЦИИ ДЕФЕКТОВ В ОБЛУЧЕННЫХ ЭЛЕКТРОНАМИ СПЛАВАХ FE–16CR // DIAGNOSTICS, RESOURCE AND MECHANICS OF MATERIALS AND STRUCTURES. 2024. № 6
Текстовый фрагмент статьи