SciNetwork
  • Библиотека 410
  • Журналы 23
  • Организации 5
    • Научно-исследовательские
    • Образовательные
    • Издательства
    • Библиотеки
    • Репозитории
  • Конференции
  • Блоги
  • Сообщество
    • Поиск людей
    • Группы
    • Форум
    • Мат. формулы
Вход
Написать
Добавить в контакты

Баженов Константин Эдуардович

Автор
SciID
0000000347
SPIN-код
0000-0071
ОНП
дефекты., полупроводниковое производство, растровая электронная микроскопия, нейронные сети
Заходил
показать
ОНП
дефекты., полупроводниковое производство, растровая электронная микроскопия, нейронные сети
1
работы
0
библиотека
0
блог
0
коммент.
0
группы
0
контакты
Его работы: новые поступления
Исследование возможности применения нейронных сетей при определении дефектов полупроводниковых материалов по изображениям растровой электронной микроскопии
Статья
Исследование возможности применения нейр…
Постов пока нет

Скоро владелец страницы опубликует здесь свои посты.

Доступ к этим данным разрешён только авторизованным пользователям.
  • О научной сети
  • Пользовательское соглашение
  • Защита авторских прав
  • Cookies
  • Обратная связь
  • Privacy Policy
Права на оригинальные тексты, а также на подбор и расположение материалов принадлежат проекту SciNetwork, © 2016 — 2025
SciNetwork, © 2025
Функция добавления в закладки доступна только авторизованным пользователям. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.
Функция отправки личных сообщений доступна только авторизованным пользователям. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.
Функция оценок доступна только для авторизованных пользователей. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.
Функция добавления в контакты доступна только авторизованным пользователям. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.