Влияние кислородных преципитатов на темновой ток кремниевых фотодиодов (2023)
                            
                        
                
            
            
                                                            
        
        
    Проведено сравнение распределений темновых токов, времени жизни неосновных носителей заряда и микродефектов, выявляемых селективным травлением. Показано, что основной причиной повышенных темновых токов и пониженной фото-чувствительности в кремниевых фотодиодах, изготовленных на кремнии n-типа, изготовленным методом Чохральского, являются генерационно-рекомбинационные процессы на мелких окисных преципитатах.
                                                            
                                    Издание:
                                
                                                        
                                УСПЕХИ ПРИКЛАДНОЙ ФИЗИКИ                            
                        
                                                                                
                                                            
                                    Выпуск:
                                
                                                        
                                Том 11, № 6 (2023)                            
                        
                                                                                
                                                